三坐标测头系统之部分测头座介绍（二）

1、PH10机动可重复定位测头座
该系列测座由三种PH10型号组成，每种均可选配一系列测头与加长杆，可实现720个位置重复定位，能够对测触的工件特征进行测量。新型PH10测座的三个变体均附有修定的重复精度指标— 由0.5 μm (2σ) 提高到0.4 μm (2σ)（距离为62 mm时），改善了测尖定位功能。新款测座通过全新的“喷雾”表面处理后具有亚光黑新式外观，可与旧款测座加以区分。

PH10M	PH10MQ	PH10T
PH10M可配备较长的加长杆和高性能测头，如SP25M或TP7M。高重复自动吸附的优势在于，可快速交换测头或加长杆，无需重新标定。	PH10MQ是PH10M的变体，可使机动测座直接与轴套连接，而测座B轴位于轴套内。本选项提供了灵巧短小的测头底座，只有A轴位于轴套之外。	与PH10M相似；不同之处在于PH10T用M8螺纹测头底座替代自动吸附接头。所有M8螺纹的测头（例如TP20和TP200）和加长杆均可直接安装在测座上。

2、PHS1伺服测座
机动伺服测座提供无限制的角度位置，适合水平测量臂坐标测量机。PHS1伺服测座适合用于条件恶劣的测量环境，这种情况下通常需要进行角度位置精细调整及长距离的测量。PHS1伺服定位测座采用持续的两轴伺服驱动，可使测头在任意角度定位。

PHS1测座与PH10可重复定位测座的定位方式不同。它被驱动到接近要求的位置，当需要采集测量点时，测座轴与坐标测量机的轴同时锁定，以提供精确的测量值。可选配一系列测头，并自动进行测头交换。其中包括触发式测头、接触式扫描测头和光学测量测头。雷尼绍触发式测头配用超长加长杆后，可以对通常难以测触的工件特征进行测量。测座由内置超程保护装置保护，这一装置在机器受到碰撞时会发出信号通知停机。

3、五轴扫描系统
在传统测量方法中，坐标测量机须执行所有必要的运动来获取表面数据。加速度会导致机器结构出现惯性偏差，进而产生测量误差。计量系统制造商多年来一直致力于开发能够降低动态误差的技术，但是由于机器和伺服系统的刚性，会有一个速度上限，超出此限度时，不能进行可靠的测量。
PH20五轴扫描系统智能测座技术采用“测座碰触”方法，仅移动测座而非坐标测量机结构即可采集测量点，实现了快速触发测量。仅使用测座的快速旋转运动，可更快地采集测量点，并且提高了精度和重复精度。
REVO五轴扫描系统搭配自由旋转测座，测量过程中测座可在两个旋转轴上同时运动，从而突破了这种传统局限性。这样，坐标测量机就可以按照设计的方式工作，即测量时按照单个矢量方向以恒定的速度移动。由于相对坐标测量机来说测座重量更轻、动态性能更好，具备较佳的应变性，因此能够快速地跟踪工件几何形状的变化，而不会导入有害的动态误差，进而加快了表面测量速度，缩短了测量循环。五轴扫描技术可使用户在保持当前测量水平的情况下，达到高的测量效率。

PH20	REVO
无级定位触发测量测头系统	扫描测座和测头系统